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  • 08. Dezember 2011

    Partikel-Quelle

    Partikel unter dem Mikroskop

    Direkt am Bauteil entstehende Partikel nehmen eine besonders kritische Stellung ein (Foto: CleanControlling)


    Direkt am Bauteil entstehende Partikel stellen ein erhebliches Risiko für sauberkeitskritische Funktionsflächen dar.

    Lesen sie dazu folgenden Artikel:

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