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  • 24. Mai 2016

    Partikelmonitoring – neue Möglichkeiten durch „REM Partikelstempel“

    Promotion

    Wie gelingt es, Partikelverunreinigungen innerhalb der Produktion zu bestimmen? Als elegante, einfache und preiswerte Lösung haben sich Verfahren erfolgreich etabliert, bei denen Partikelstempel zum Einsatz kommen. Mit Hilfe spezieller Partikelstempel werden Partikel von Oberflächen in der Produktionsumgebung abgenommen.

    Partikelaufnahme durch REM Partikelstempel (Foto: CleanControlling GmbH)

    Partikelaufnahme durch REM Partikelstempel (Foto: CleanControlling GmbH)

    Durch Auswertung der vom Partikelstempel aufgenommenen Partikel, kann das Partikelaufkommen an Arbeitsplätzen und Produktionsstätten beobachtet und protokolliert werden.

    Bei den bisher eingesetzten Partikelstempeln war die Auswertung der Partikel auf die Analyse mittels Lichtmikroskopen beschränkt. Die Spezialisten der CleanControlling GmbH haben nun einen neuen REM Partikelstempel entwickelt, der die Analyse der Verschmutzung unter dem Rasterelektronenmikroskop (REM) erlaubt. Dadurch werden wesentlich aussagekräftigere Analyseergebnisse möglich.

    Partikelanalyse mit Rasterelektronenmikroskop REM (Foto: CleanControlling GmbH)

    Partikelanalyse mit Rasterelektronenmikroskop REM (Foto: CleanControlling GmbH)

    Die Untersuchung der Partikelstempel mittels REM bietet folgende Vorteile:

    • Analysemöglichkeit rein metallischer Partikel ab einer Partikelgröße von 5 µm
    • Auswertung der Materialzusammensetzung nichtorganischer Partikel
    • Verbesserte Analyse der Strukturen und Formen der Partikel
    • Optimierte automatische oder manuelle Auswertung und Beurteilung der aufgetretenen Verschmutzung

    Partikelanalyse mit Rasterelektronenmikroskop REM

    Der neue REM Partikelstempel wurde speziell für die Analyse mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) entwickelt und zeichnet sich durch die an das Analyseverfahren angepassten Eigenschaften aus:

    • Aufgrund der Materialstruktur eignen sich REM Partikelstempel besonders, um Partikelgrößen ab 25 µm – bei metallischen Partikeln sogar ab 5 µm – zu analysieren
    • die Grundstruktur der REM Partikelstempel besteht aus Kohlenstoff und Sauerstoff und beinhaltet siliziumhaltige Eigenpartikel kleiner 25 µm
    • die REM Partikelstempel besitzen eine homogene, nicht glänzende Klebeschicht, die über mehrere Stunden vakuumstabil bleibt
    • die Aufnahmedosen der REM Partikelstempel haben einen ideal gewählten Durchmesser, wodurch diese exakt in die Aussparung eines REM Probenaufnahmetisches passen
    • zusätzlich verfügen sie über ein integriertes „Leittab“ an der Unterseite des REM Partikelstempels, das zur einfachen Fixierung im REM Probenaufnahmetisch dient.
    Neu entwickelter REM Partikelstempel (Foto: CleanControlling GmbH)

    Neu entwickelter REM Partikelstempel
    (Foto: CleanControlling GmbH)

    Mehr Informationen erhalten Sie unter:

    CleanControlling GmbH
    Ansprechpartner: Herr Michael Schmal
     
    Fax: +49 74 65-92 96 78-19
    Telefon: +49 74 65-92 96 78 0
    E-Mail unter info@cleancontrolling.de

    CleanControlling bietet zu allen Produkten
    Beratung und Information
    und betreibt ein eigenes, zertifiziertes Prüflabor.

    Darüber hinaus steht CleanControlling mit einem professionellen Team als Dienstleister in der Technischen Sauberkeit jederzeit beratend zur Verfügung und freut sich Ihre Kontaktaufnahme.

     
     
    Verweise:
    Korrelative Mikroskopie zur Partikel-Analytik
    Mikrotomographie zur Partikel-Analyse
    Partikel – Störgrößen bei Messverfahren
    Der „Illig“-Wert
    Gravimetrie – Wägen im Mikrogramm-Bereich
    Auf der Jagd mit Partikelfallen
    Verfahren zur Partikelmessung
    EDX-Analyse zur Partikel-Messung



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